芯片测试全自动推拉力测试机

推拉力测试机是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，具有测试动作迅速、准确、适用面广的特点。适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测试、TO封装测试，IGBT功率模块封装测试，PCBA电子组装测试、汽车电子、航天、JUN工等等。亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究。

测试参数

设备型号：LB-8100A

测试精度：传感器精度±0.003%；综合测试精度±0.25%

测试范围：根据客户产品配置不同量程测试模块

工作方式：推针及拉针180度垂直与测试产品接触，确保数据的准确性

传感器更换方式：手动更换测试模组

操作系统：控制系统+Windows操作界面

平台夹具：机台可共用各种夹具，夹具可360度旋转

X轴行程：75mm

X轴分辨率：+/-0.002mm

Y轴行程：75mm

Y轴分辨率：+/-0.002mm

Z轴行程：80mm

Z轴分辨率：+/-0.001mm

电源：220V±5%

功率：300W(MAX)

外型尺寸：长：500mm宽：550mm高：440mm

重量：80kg